最新資訊
聯(lián)系我們
- 電話 : 4000-180-060
- 手機(jī) : 158-022-89629
- 企業(yè)QQ : 3041980058
- 郵箱 : info@np17.cn
- 網(wǎng)址 : http://echl.net.cn
- 地址 : 天津?yàn)I海新區(qū)華苑產(chǎn)業(yè)園區(qū)(環(huán)外)海泰創(chuàng)新六路2號(hào)華鼎新區(qū)一號(hào)3號(hào)樓1門10層
- 編輯 :
天津市能譜科技有限公司
時(shí)間: 2017-10-26 瀏覽量: 6164 -
單晶硅材料可以用于制造太陽(yáng)能電池、半導(dǎo)體器件等,由于其應(yīng)用領(lǐng)域的特殊性要求其純度達(dá)到99.9999% 甚至更高。在單晶硅生產(chǎn)過(guò)程中由原料及方法等因素難以避免的引入了碳、氧等雜質(zhì),直接影響了單晶硅的性能。因而需對(duì)單晶硅材料中的氧碳含量進(jìn)行控制。
依據(jù)G B/T 1558-2009和G B/T 1557-2006,利用紅外光譜法結(jié)合傅立葉紅外光譜儀可以在對(duì)單晶硅中代位碳和間隙氧進(jìn)行定性的同時(shí)進(jìn)行定量測(cè)定,具有快速、方便、準(zhǔn)確的優(yōu)點(diǎn)。
· 原理
利用硅中代位碳原子和間隙氧原子分別在波數(shù)607.2cm -1和1107cm -1 有特征吸收,根據(jù)吸收峰的吸收系數(shù)來(lái)確定代位碳原子濃度和間隙氧原子的濃度。
· 實(shí)驗(yàn)條件
儀器及附件:
氧碳測(cè)試附件 硅中氧碳測(cè)試支架;
測(cè)試條件:
分辨率: 2cm -1
掃描次數(shù): 64次
檢測(cè)器: DTGS
其他:
千分尺:精確至0.01mm
氫氟酸(HF):分析純(A.R)
· 樣品的制備
按GB/T 1558-2009和GB/T 1557-2006要求選取合適的參比硅片和樣品硅片,分別用氫氟酸(HF)去除表面的氧化物,測(cè)定其厚度后,待測(cè)。
· 樣品測(cè)試
1、采用iCAN 9紅外硅中氧碳含量測(cè)試軟件依次進(jìn)行如下操作:背景掃描→輸入?yún)⒈群穸取鷴呙鑵⒈葮悠贰斎霕悠泛穸取鷴?span style="line-height: 3em;">描樣品→記錄數(shù)據(jù);
2、重復(fù)樣品掃描2次并記錄數(shù)據(jù),得到如下圖所示結(jié)果。
3、測(cè)試數(shù)據(jù)
· 結(jié)論
因此, iCAN9紅外氧碳含量測(cè)試軟件可以方便、快速的對(duì)單晶硅材料中的代位碳原子、間隙氧原子進(jìn)行定量測(cè)定。